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《电子测试》

联系电话:13402255260
国内刊号:CN11-3927/TN
国际刊号:ISSN1000-8519
电子邮箱:cnzhengkan@126.com
注:来稿请注明《电子测试》+姓名+电话
期刊简介
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《电子测试》杂志主管单位为北京市科学技术研究院、主办单位为北京市科学技术研究院,国内统一刊号:11-3927/TN;国际标准刊号:1000-8519。本刊创刊于1987年,见证了中国电子测试测量业的发展历程。

《电子测试》办刊宗旨为促进国际和国内先进的测试测量技术之间交流提供平台,一直以来深受测试测量领域工程师和研究者的关注,为他们搭建沟通行业技术学术交流的平台。2012年-2014年被评为科技核心期刊,2015-2016年被评为中国科技论文统计源期刊,2020年期刊被评为RCCSE中国准核心学术期刊。

《电子测试》栏目:设计研发、理论算法、网络信息工程、测试工具与解决方案、科技论坛五个栏目。主要包含:测试测量的基础理论、电参数测量、信号检测技术、传感器技术、仪器仪表技术、嵌入式技术、通讯技术、 DSP、EMC/EMI 测试、纳米测试、虚拟仪器技术、基于总线的测试、集成电路测试、在线测试与故障诊断、可编程器件在测控系统中的应用、微处理器应用,以及测试测量技术在各领域应用的学术文章。
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    3.稿件文责自负。编辑部对来稿有权做技术性和文字性修改,实质性内容修改须征得作者同意。

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    《电子测试》写作要求:

    1.稿件需提供作者简介、单位及通讯作者联系方式和研究方向等。
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    详细的中英文摘要(300~500字左右),应包括研究的问题、过程和方法、结果和结论3个层次。
    3.如获基金资助,请在文章首页地脚处标示出项目名称和编号。
    4.文中图表需清晰,用软件绘制的图尽量提供图表的矢量图,表格不能为图片,分图均需有分图题。
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    6.参考文献一般不少于10篇,综述性文章不少于20篇,参考文献应以文中出现的先后次序在正文中注明编号,
    并列于文后,参考文献的书写格式请参照“参考文献著录规则”。
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